mikroskopju afm forza atomika
Atomic Force Microscope (AFM), strument analitiku li jista 'jintuża biex tistudja l-istruttura tal-wiċċ ta' materjali solidi, inklużi iżolaturi.Tistudja l-istruttura tal-wiċċ u l-proprjetajiet ta 'sustanza billi tiskopri l-interazzjoni interatomika estremament dgħajfa bejn il-wiċċ tal-kampjun li għandu jiġi ttestjat u element sensittiv għall-mikro-forza.Se jkun par ta 'forza dgħajfa estremament sensittivi mikro-cantilever tarf iffissat, it-tarf l-ieħor tal-ponta żgħira qrib il-kampjun, allura se jinteraġixxu magħha, il-forza se tagħmel id-deformazzjoni mikro-cantilever jew bidliet fl-istat tal-moviment.Meta tiskennja l-kampjun, is-sensor jista 'jintuża biex jiskopri dawn il-bidliet, nistgħu niksbu d-distribuzzjoni ta' informazzjoni dwar il-forza, sabiex niksbu l-morfoloġija tal-wiċċ ta 'informazzjoni nano-riżoluzzjoni u informazzjoni dwar il-ħruxija tal-wiċċ.
★ Sonda ta 'skannjar integrata u stag tal-kampjun tejbu l-abbiltà ta' kontra l-interferenza.
★ Lejżer ta 'preċiżjoni u apparat ta' pożizzjonament tas-sonda jagħmlu t-tibdil tas-sonda u l-aġġustament tal-post sempliċi u konvenjenti.
★ Bl-użu tas-sonda tal-kampjun toqrob mod, il-labra tista 'perpendikolari għall-iskannjar tal-kampjun.
★ Sonda tal-kampjun tal-kontroll tas-sewqan tal-mutur tal-polz awtomatiku toqrob vertikali, biex tinkiseb pożizzjonament preċiż taż-żona tal-iskannjar.
★ Żona ta 'skanjar tal-kampjun ta' interess tista 'tiċċaqlaq liberament billi tuża d-disinn ta' apparat mobbli kampjun ta 'preċiżjoni għolja.
★ Sistema ta 'osservazzjoni CCD b'pożizzjonament ottiku tikseb osservazzjoni u pożizzjonament f'ħin reali taż-żona tal-iskannjar tal-kampjun tas-sonda.
★ Id-disinn tas-sistema ta 'kontroll elettroniku ta' modularizzazzjoni ffaċilita l-manutenzjoni u t-titjib kontinwu taċ-ċirkwit.
★ L-integrazzjoni ta 'ċirkwit ta' kontroll tal-modalità ta 'skannjar multipli, tikkoopera mas-sistema tas-softwer.
★ Sospensjoni tar-rebbiegħa li sempliċi u prattika mtejba kapaċità kontra l-interferenza.
| Mod tax-xogħol | FM-Tapping, kuntatt fakultattiv, frizzjoni, fażi, manjetiku jew elettrostatiku |
| Daqs | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Scanningrange | 20 mmmin XYdirection,2 mm fid-direzzjoni Z. |
| Riżoluzzjoni tal-iskannjar | 0.2nm fid-direzzjoni XY,0.05nm fid-direzzjoni Z |
| Il-firxa tal-moviment tal-kampjun | ± 6.5mm |
| Wisa' tal-polz tal-mutur joqrob | 10±2ms |
| Punt tat-teħid tal-kampjuni tal-immaġni | 256×256,512×512 |
| Ingrandiment ottiku | 4X |
| Riżoluzzjoni ottika | 2.5 mm |
| Ir-rata tal-iskannjar | 0.6Hz ~ 4.34Hz |
| Angolu tal-iskannjar | 0°~360° |
| Kontroll tal-iskannjar | 18-bit D/A fid-direzzjoni XY,16-bit D/A fid-direzzjoni Z |
| Teħid ta' kampjuni tad-dejta | 14-bitA / D,kampjunar sinkroniku b'ħafna kanali A/D double16-bit |
| Feedback | Feedback diġitali DSP |
| Rata ta' kampjunar ta' feedback | 64.0KHz |
| Interface tal-kompjuter | USB2.0 |
| Ambjent operattiv | Windows98/2000/XP/7/8 |